질량 및 X-ray 분석

X선 에너지는 지구상에 존재하는 대부분 원소들의 외곽 전자를 여기 시킬 수 있는 에너지로 물질을 쉽게 투과하여 소재의 비파괴분석이 가능하다는 장점이 있습니다. X선을 이용하여 물질 간 상호작용을 통해 변화한 전자구조에 따라 발생하는 에너지, 파장 등을 이용하여 물질의 정성/정량 분석이 가능합니다.

XPS는 표면 분석에 있어서 가장 잘 알려져 있으며 널리 사용되는 방법으로 아인슈타인의 광전효과(photoelectric effect)를 기반으로 고에너지의 빛과 표면의 상호 작용에 의해 방출된 전자의 운동 에너지를 측정하여 분석합니다. 광원으로서 엑스선을 사용하여 분석 시료를 이루고 있는 원소의 핵심부 전자(core electron)를 방출시킨 후, 방출된 전자의 운동에너지를 측정하여 원소의 결합 에너지(binding energy)를 측정하고 분석하여 시료를 구성하고 있는 원소를 찾을 수 있으며, 화학적 천이(chemical shift)를 이용한 화학 결합 상태 등에 대한 정보를 얻을 수 있습니다.

XRD는 가속된 전자빔을 시료에 조사할 때 표면에서 발생되어 나오는 2차 전자, 후방산란 전자를 수집하여 그 신호들을 영상화시켜 미시영역 관찰이 가능하게 한 대표적인 표면 분석 장비로 시료에서 회절된 특성 X-선의 에너지 값을 분류하여 결정구조를 분석하고 이를 통해 시료의 화학 조성에 대한 정성 분석 가능합니다.

HD-XRF는 Tube에서 발생한 X-Ray를 1㎛ Polycapillary를 통과시킨 후 제품의 표면에 강하게 집중하여 Sample에서 발생하는 각 원소별 energy의 측정 농도를 분석하는 장비로, Cr, As, Br, Cd, Sb, Ba, Se, Hg, Cl, & Pb 포함 장난감 및 소비자 제품 내에 10독소를 중심으로 제품의 유해성 평가가 가능합니다.

주요사양
  • Minimum X-ray Beam Size : ≤7.5 μm
  • X-ray Power(W) & Voltage
    7.5 μm 0.8 W 15 kV
    10 μm 1.25 W 15 kV
    100 μm 100 W 20 kV-HP
  • Energy Resolution on PET : FWHM < 0.85 eV
  • Energy Resolution on Ag : FWHM < 0.48 eV
  • Mono-atomic and Cluster Ion Source
분석항목
  • Binding Energy 측정으로 원소의 정성 및 정량, 화학 결합 상태 분석
특징
  • 시료의 표면에 X-선을 입사하여, 방출하는 광전자의 에너지를 측정함으로써 시료표면의 조성 및 화학적인 결합상태를 알 수 있음
  • (30 ~ 400) um의 미소영역에서 분석 가능
  • Depth profiling을 통한 깊이방향 분석이 가능해 표면의 오염 및 표면층의 분석을 통한 두께와 정량된 정보확인 가능
시료
  • 분석 시료 : 고무, 금속, 세라믹, polymer 등
  • 사이즈 : 시험자와 협의 후 진행